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简要描述:ICP-OES MICS系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪,利用性能可靠的集成固态射频电源、稳固的恒温二维分光系统、科研级制冷防溢出CCD检测系统,结合国内领先的光谱校正技术,将ICP OES MICS的操作性、灵活性和可靠性发挥的超乎想象,日常操作和维护非常简单,更适合国内一线分析实验的操作要求,实现小型化(Miniatorization)、便捷化(Intelligentize)、智能化( Convenience)的光谱仪( Spec仕ometer )。
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详细介绍
一、产品介绍
ICP-OES MICS系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪,利用性能可靠的集成固态射频电源、稳固的恒温二维分光系统、科研级制冷防溢出CCD检测系统,结合国内领先的光谱校正技术,将ICP OES MICS的操作性、灵活性和可靠性发挥的超乎想象,日常操作和维护非常简单,更适合国内一线分析实验的操作要求,实现小型化(Miniatorization)、便捷化(Intelligentize)、智能化( Convenience)的光谱仪( Spec仕ometer )。
ICP-OES MICS系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪,可广泛应用于
环境保护、食品安全、地质矿产、冶金、高色金属、稀土、化工、||伍床医药、石油制昂、半导体、农业研究等各个领域。用于测定不同物质中的常量、微量、瘦量元素含量,可用于样目中元素的定性、半定量及精确定量分析,检出限可达十亿分之一级。
二、性能指标
检测器:
高效半导体制冷的CCD固体检测器,在光谱仪波长范围内具有连续像素,能任意选择波长,且具有天然的防溢出功能设计。
检测单元:大于3,000,000个检测单元,读取速度≥2MHz。
像素分辨率:≤0.003nm。
检测器制冷系统:为获得最低的检测器暗电流,采用高效三级半导体制冷。
工作温度:≤-45℃,到达工作温度的时间:< 3 分钟。
光学系统:恒温驱气型中阶梯分光系统。
单色器:中阶梯光栅和棱镜二维色散系统,高能量,为保证仪器测试的稳定性,光栅和棱镜等内光路部件位置固定不动,在光谱仪全波长范围内一次曝光同时测定所有元素。
光室:带精密光室恒温38℃±0.1℃,可使用氩气或氮气进行光室吹扫,测定<200nm谱线时驱气量<3L/min。
波长范围:167-1000nm,全波长覆盖。
光学分辨率(FHW):As189.042nm半峰宽<0.007nm,Ca393.366nm半峰宽<0.017nm,Ba614.172半峰宽<0.024nm, K766.490nm半峰宽<0.035nm为保证光学系统的稳定性和最佳的光通量,焦距为280mm。
等离子体:
等离子体观察方式:炬管垂直放置
RF发生器:固态发生器,等离子体线圈具有聚四氟乙烯保护层设计,防腐蚀,免维护。
频率:27.12MHZ。
RF功率≥1300W。
气路控制:配置3路高精度质量流量控制器,由ICP-OES软件直接控制,包括冷却气、辅助气、雾化气。精度0.01 L/min。
蠕动泵:5通道16滚轮蠕动泵。
分析性能:
分析速度:≥每分钟50个元素或谱线,而且每条测量谱线的积分时间≥10秒;
样品消耗量:<2ml,测定大于70个元素;
谱线灵活性:可对分析元素的任何一条谱线进行定性、半定量和定量分析,便于分析研究。
测定谱线的线性动态范围:≥106(以Mn257.6nm 来测定,相关系数≥0.9996),提供证明材料。
内标校正:同时的内标校正,即内标元素和测量元素必须同时曝光。
精密度:测定1ppm或10ppm多元素混合标准溶液,重复测定十次的RSD≤0.5%。
稳定性:测定1ppm或10ppm多元素混合标准溶液,不使用内标校正,连续测定4小时的长时间稳定性RSD<1.0%。
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